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技術(shù)支持

PDA光電直讀光譜儀的誤差來源
更新時(shí)間:2016-04-19   點(diǎn)擊次數(shù):1767次
     PDA光電直讀光譜儀光譜按強(qiáng)度隨波長(zhǎng)或頻率的分布輪廓,可分為線狀光譜、帶狀光譜和連續(xù)光譜;按能量傳遞方式可分為吸收光譜、發(fā)射光譜、熒光光譜和拉曼光譜;按電磁輻射的本質(zhì),光譜可分為:原子光譜、分子光譜、X射線能譜、γ射線能譜等。電磁波譜根據(jù)能量的高低排列由短波段的γ射線、X射線到紫外光、可見光、紅外光再到長(zhǎng)波段的微波和射頻波。原子是由原子核和核外電子組成的,核外電子處在不同的軌道上即不同的能級(jí)上,能量變化是量子化的。當(dāng)zui外層電子產(chǎn)生躍遷時(shí),所發(fā)射或吸收的光譜即為原子光譜,原子光譜屬于線狀光譜,是元素的固有特征。原子光譜的分析技術(shù)包括原子發(fā)射光譜(AES)、原子吸收光譜(AAS)和原子熒光光譜(AFS)及X射線熒光光譜(XRF)分析方法。
    PDA光電直讀光譜儀是指能夠?qū)⒐庠窗l(fā)射出來的具有各種波長(zhǎng)的復(fù)色光按照波長(zhǎng)順序展開,并通過檢測(cè)器測(cè)量不同波長(zhǎng)光譜強(qiáng)度的儀器。利用光譜儀獲得的元素特征波長(zhǎng)信息可以定性判斷樣品中是否含有該元素;通過元素特征譜線的強(qiáng)度可以定量計(jì)算該元素含量,即利用一系列標(biāo)樣制定工作曲線,對(duì)比待測(cè)試樣和工作曲線坐標(biāo)上的強(qiáng)度,得到待測(cè)試樣的含量。
   

PDA光電直讀光譜儀的誤差來源:

    1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差,一般包括儀器的本身波動(dòng);樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差(標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致,這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異;同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng));待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異,可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差,如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
    2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差,如試樣不均勻;檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化;樣品本身的成分差異等。
    3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果,可以避免。如制樣不,樣品前處理不符合要求,控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差,選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。

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